【授業の目的】
高分子鎖の走査プローブ顕微鏡観察を切り口とし、高分子科学の理解を深める。
高分子の材料特性は、高分子鎖が形成する非晶や結晶等の様々な高次構造によって支配される。最近の走査プローブ顕微鏡の進歩による分子鎖の直接観察の成果も踏まえて高分子鎖が形成する様々な構造と特性の関係について論じる。
【授業の到達目標】
走査プローブ顕微鏡による高分子鎖の観察という切り口で、高分子を分子レベルで理解する視点を養う。
【授業概要（キーワード）】
高分子鎖、結晶/非晶構造、原子間力顕微鏡
走査トンネル顕微鏡
【科目の位置付け】
この授業は、走査プローブ顕微鏡を用いた高分子構造の解明を扱う特論である。
【授業計画】
・授業の方法
講義はパワーポイントで行う。資料は適時プリントを配布する。
・日程
1. 走査プローブ顕微鏡全般（種類、原理、最近の進歩）
2-3. 高分子孤立鎖観察
4. 高分子孤立鎖の運動挙動観察
5-6. 高分子結晶観察
7. 高分子重合観察
8-9．有機分子の自己組織化観察
10. 高分子超分子観察
11. らせん高分子観察
12. 高分子鎖のフォースカーブ
13. 文献調査
14. Discussion
15. 総括
【学習の方法】
・受講のあり方
分からないことがあったら、直ぐに質問する。授業中も、積極的なコメントを期待する。
・授業時間外学習へのアドバイス
自ら、関連する研究について学会や論文等で調査することを奨める。
【成績の評価】
・基準
レポート及び講義中の質疑応答で評価する。
・方法
レポート及び講義中の質疑応答で総合的に評価する。６０点以上を合格とする。
【テキスト・参考書】
参考書：
S. N. Magonov, M.-H. Whangbo, Surface Analysis with STM and AFM, VCH, 1996.
H. Schonherr, G. J. Vancso, Scanning Force Microscopy of Polymers, Springer, 2010.
V. V.Tsukruk, S. Singamaneni, Scanning Probe Microscopy of Soft Matter, Fundamentals and Practices, Wiley-VCH, 2012.
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